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ICT测试参数的调整方法

发布时间:2018-11-16  新闻来源:深圳市捷甫电子有限公司

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  ICT类似如万用表,只是把表笔换成了测试针。那么问题就简单了,一颗普通的RLC元件,都必须有两个测试点才能够测试,当然同一个网络共用的节点用一个测试点就可以了。一般Coverage一般要求在85%以上才建议加入ICT测试。


  ICT是在产品不通电的状况下,机器对产品上的每个元件进行阻值、容量、感量、通断等参数的测试。


  FCT是在整合了ICT和功能测试,即完成ICT测试步骤后,转到产品通电状态,测试产品的各项正常工作时的参数。这样的好处是不要再去拿放一次产品。测试点的设计要求:


  1、定位孔采用非金属化的定位孔 ,误差小于0.05mm。定位孔周围3mm不能有元件。


  2、测试点直径不小于0.8mm,测试点之间的间距不小于1.27mm,测试点离元件不小于1.27mm,否则锡会流入到测试点上。


  3、如果在测试面放置高度超过4mm的元器件,旁边的测试点应避开,距离4mm以上,否则测试治具不能植针。


  4、每个电气节点都必须有一个测试点,每个IC必须有POWER及GROUND的测试点,且尽可能接近此元器件,最好在距离IC 2.5mm范围内 。


  5、测试点不可被阻焊或文字油墨覆盖,否则将会缩小测试点的接触面积,降低测试的可靠性 。


  6、测试点不能被插件或大元件所覆盖、挡住。


  7、不可使用过孔或DIP元件焊点做测试点。


  ICT植针率需要达到100%,元件可测试率要达到85%以上。

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